Simone集成电路测试仪
的有关信息介绍如下：
集成电路测试仪是用于检测集成电路性能的专用仪器设备，主要分为数字/模拟测试仪、功能/参数测试仪等类别。其发展历经四代：1965年第一代测试16管脚小规模集成电路，1980年第四代可测256管脚超大规模集成电路，21世纪测试速率达500MHz以上 。作为集成电路产业三大支撑技术之一，该设备通过PCI总线连接计算机控制测试系统，支持多工位并行测试 。
我国自70年代开始研制，1986年中科院计算所开发出ICT-2综合测试系统，1996年研制出测试速率40MHz的3190系统 。设备采用插槽式结构，配置10个通用插槽和继电器矩阵板，支持64管脚模拟集成电路及32管脚数字集成电路测试 。现代测试仪配备全浮动源模块（最高1200V/15A），支持第三代半导体测试，具备32工位并行异步测试能力 。主流产品可覆盖100管脚器件，测试速度达500KHz/Pin 。
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